sem掃描電鏡的分析室滿足了對元素(EDX，WDS)和晶體學(EBSD)樣品數(shù)據(jù)日益增長的需求，該分析室支持多個EDX檢測器，以提高通量并消除陰影效應。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術的佳定位。由于掃描電鏡的現(xiàn)場能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結果。用于光子學，地球科學，陶瓷，玻璃和故障分析應用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測器。掃描電鏡將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產(chǎn)品中完整的解決方案。它是需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作員界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應用的理想選擇。
多用戶實驗室需要顯微鏡才能在短時間內(nèi)產(chǎn)生帶有相關數(shù)據(jù)的高質(zhì)量圖像。sem掃描電鏡通過基于四極槍組件的強大成像系統(tǒng)滿足了這一需求，該系統(tǒng)在各種束能量和真空條件下都能提供出色的結果。在所有這些條件下，地形圖和成分圖都提供了必要的樣本信息。通過同時采集，該信息可隨時用于進一步的解釋和分析。
查找感興趣的區(qū)域甚至查找樣品本身可能是一項繁瑣的工作，但在sem掃描電鏡上則并非如此。室內(nèi)導航攝像頭(Nav-Cam)提供了樣品架的詳細照片，使操作起來非常容易一個會話中包含多個樣本，然后一個個地導航到它們。在樣本中，只需單擊即可轉(zhuǎn)到感興趣的區(qū)域。導航攝像機圖像隨樣本一起旋轉(zhuǎn)，因此導航非常直觀。
